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半导体封装结构的形成方法
编号:S000018731 刷新日期: 有效日期至:2020-10-14 浏览:2605 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 江苏 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:合作研发
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
一种半导体封装结构的形成方法,包括:提供半导体基底,所述半导体基底上形成有焊垫层;形成覆盖所述半导体基底和部分焊垫层表面的钝化层,所述钝化层中具有暴露部分焊垫层表面的第一开口;在第一开口的侧壁和底部以及钝化层上形成凸下金属层;形成覆盖所述凸下金属层的第一掩膜层,所述第一掩膜层具有暴露第一开口上的部分凸下金属层的第二开口;在第二开口中形成金属柱;去除所述第一掩膜层;在金属柱的底部侧壁和部分凸下金属层表面上形成底层金属层;去除所述第二掩膜层;以金属柱和底层金属层为掩膜,刻蚀去除金属柱两侧的凸下金属层。本发明的方法防止金属柱下的凸下金属层产生底切缺陷。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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