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用于半导体器件的封装方法和结构
编号:S000018707 刷新日期: 有效日期至:2020-12-03 浏览:2258 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:科技服务
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
公开了用于半导体器件的封装方法和结构。在一个实施例中,封装的半导体器件包括再分布层(RDL),其具有第一表面和与第一表面相对的第二表面。至少一个集成电路连接至RDL的第一表面,以及多个金属凸块连接至RDL的第二表面。模塑料被设置在至少一个集成电路和RDL的第一表面的上方。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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