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> 技术详情
形成半导体装置的方法
编号:S000018622
刷新日期:
有效日期至:
2020-11-13
浏览:
2407
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
科技服务
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
根据本发明的实施方式提供了制造半导体装置的方法,包括从衬底的顶表面形成沟槽,所述衬底具有装置区域。与相对的底表面相比,装置区域更邻近顶表面。所述沟槽围绕装置区域的侧壁。所述沟槽填充以粘合剂。粘性层形成在衬底的顶表面上。承载件用粘性层附接。从底表面减薄衬底以便使粘性层的至少一部分以及装置区域的背部表面暴露。去除粘性层并且蚀刻粘合剂以便使装置区与的侧壁暴露。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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