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半导体器件扇出倒装芯片封装结构的制作方法
编号:S000018464 刷新日期: 有效日期至:2021-01-02 浏览:2299 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 江苏 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明公开了一种半导体器件扇出倒装芯片封装结构的制作方法,包括以下步骤:制作半导体器件柱状凸点单体及再布线铜板,将半导体器件柱状凸点单体倒扣在再布线铜板上,然后回流;半导体器件柱状凸点单体的制作方法:在半导体芯片上形成电极;在半导体芯片和电极上覆盖钝化层;在钝化层上形成一层聚合物;再有选择的形成绝缘中空柱状件;在表面形成金属层;再形成光刻胶和开口;在绝缘中空柱状件中形成第一金属柱,形成第二金属柱;去除光刻胶和金属层;切割成单体。本发明制备的半导体器件扇出倒装芯片封装结构,能够缓解凸点结构和半导体芯片结合点处的应力,解决由于热膨胀不均匀容易引起电极断裂,导致半导体器件失效的问题。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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