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半导体结构的刻蚀方法
编号:S000018304 刷新日期: 有效日期至:2020-11-09 浏览:2170 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:科技服务
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
一种半导体结构的刻蚀方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底表面具有待刻蚀材料层;在所述待刻蚀材料层表面形成掩膜层;以所述掩膜层为掩膜,对所述待刻蚀材料层进行刻蚀工艺,通入反应气体后,射频功率源以第一脉冲的方式输出射频功率,偏置功率源以第二脉冲的方式输出偏置功率,且所述第一脉冲和第二脉冲的脉冲频率不同。不仅刻蚀速率较快,且通过调控所述射频功率源和偏置功率源之间的脉冲频率比例,可以调整刻蚀的工艺窗口大小和刻蚀速率随时间的分布。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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