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形成半导体器件的方法
编号:S000018241 刷新日期: 有效日期至:2020-10-25 浏览:2478 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:科技服务
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
提供一种形成半导体器件的方法,半导体器件包括使用包括金属掩膜和介电掩膜的多层硬掩膜形成的互连层。在第一步骤中使用该多层硬掩膜之后,对准第一图案形成第二开口图案,然后在第二步骤中,使用该介电掩膜在绝缘层中形成嵌入结构,随后去除该金属掩膜。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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