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半导体器件以及包括研磨步骤的制造半导体器件的方法
编号:S000018113 刷新日期: 有效日期至:2020-12-30 浏览:2274 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:合作研发
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明公开了半导体器件以及包括研磨步骤的制造半导体器件的方法。一种制造器件的方法包括提供具有第一面和与第一面相对的第二面的半导体芯片,其中接触垫被布置在第一面上。所述半导体芯片被放置在载体上,其中第一面面对载体。利用封装材料封装所述半导体芯片。所述载体被移除,并且从第一半导体芯片的第二面移除半导体材料而同时不移除封装材料。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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