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半导体结构的形成方法
编号:S000018091 刷新日期: 有效日期至:2020-10-10 浏览:2414 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
一种半导体结构的形成方法,包括:提供半导体衬底;对所述半导体衬底进行离子注入,在半导体衬底内形成停止层;形成停止层后,在所述半导体衬底的第一表面形成器件层;在所述器件层和半导体衬底内形成导电插塞,所述导电插塞与所述停止层接触;形成导电插塞之后,化学机械抛光所述半导体衬底的第二表面,直至暴露出停止层为止,所述第二表面与所述第一表面相对;去除所述停止层和部分半导体衬底,使所述导电插塞突出于半导体衬底的第二表面;去除所述停止层和部分半导体衬底之后,在所述半导体衬底第二表面形成钝化层,所述钝化层表面与所述导电插塞顶部齐平。所形成的半导体器件的尺寸可控,且性能稳定。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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