本发明的目的在于提供一种在测试时能够防止在半导体的终端部的放电的半导体测试夹具。本发明的半导体测试夹具的特征在于，具备：台座（1），配设有探针（3）和以在平面视图中包围探针（3）的方式设置的绝缘物（2）；载物台（6），与台座（1）的配设有探针（3）以及绝缘物（2）的一侧的面对置地配置并且能够在台座（1）侧的面上载置被检体（4），在载物台（6）载置被检体（4）并且台座（1）和载物台（6）向接近的方向移动时，探针（3）与形成于被检体（4）的电极接触，并且，绝缘物（2）接触到被检体（4）。