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> 技术详情
基于回波损耗补偿的窄带天线测试方法
编号:S000015522
刷新日期:
有效日期至:
2020-11-26
浏览:
2442
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 - 陕西
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
合作研发
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明涉及一种基于回波损耗补偿的窄带天线测试方法,其特征在于:搭建天线测试系统:发射端的辅助天线与测试端的被测天线位于同一高度,且位于同一轴线;根据某一频点的反射系数,可以推算出天线相应频点的辐射能量损耗,并加以数值补偿,使得时-频变换后,时域波形没有畸变。本发明通过对测试带宽进行拓宽,以获取理想的时域分辨率,从而有效抑制多径干扰的影响,将测试技术应用到微波暗室低频段(300MHz以下频段)天线测试,以及有近端强反射体的开阔场测试,可使低频和窄带天线方向图精度改善2dB左右,获得高精度的天线测试结果。
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No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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