本发明公开了一种测量电光强度调制器啁啾参数频率响应特性的装置与方法，涉及光电子技术领域。可调谐激光器、偏振控制器、待测电光强度调制器、微波信号源、第一光连接器、第二光连接器、单模光纤、光功率计、光电探测器、微波功率计、数据采集卡、计算机；所述可调谐激光器、偏振控制器、待测电光强度调制器、第一光连接器、色散光纤组、第二光连接器、光电探测器之间依次光路连接；所述光电探测器、微波功率计、数据采集卡、计算机、微波信号源之间依次电路连接。本发明具有测量精度高、操作方便的优点，在光纤通信系统、电光强度调制器分析、光信号处理方面具有重要的应用前景。