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> 技术详情
扩散峭度张量成像的高阶张量特征参数提取方法
编号:S000014517
刷新日期:
有效日期至:
2020-11-26
浏览:
2522
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
医疗卫生 - 医疗器械
转让类型:
科技服务
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明涉及医疗器械技术领域,为提出一种新的实用的人脑白质结构异常的磁共振成像参数提取方法,通过一定的特征提取方法对组织的各向异性进行分析,达到客观评价病变程度的目的,本发明采取的技术方案是,扩散峭度张量成像的高阶张量特征参数提取方法,包括如下步骤:通过受试者在磁共振扫描仪上采集组织沿多个方向的扩散加权信号,拟合得到反映组织内水分子扩散分布概率密度函数特征的二阶及四阶张量,通过一定的张量分析得到由于组织结构异常引起的水分子扩散分布异常的病变特征,主要有扩散系数和峭度系数两个不同角度的参数。本发明主要应用于医疗器械设计制造。
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认证方式:
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